Máy FIB SEM – JIB-PS500i

Máy FIB SEM – JIB-PS500i là hệ thống kính hiển vi điện tử quét tích hợp chùm ion hội tụ (FIB-SEM) do JEOL phát triển, cho phép quan sát cấu trúc vi – nano tiên tiến. Thiết bị cho phép gia công, cắt lớp và chuẩn bị mẫu TEM nhanh chóng với độ chính xác cao, đáp ứng hiệu quả nhu cầu phân tích trong bán dẫn, vật liệu và nghiên cứu chuyên sâu.

1. Giới thiệu về máy FIB-SEM – JIB-PS500i

Máy FIB-SEM JIB-PS500i là hệ thống kính hiển vi điện tử quét tích hợp chùm ion hội tụ, cho phép quan sát hình ảnh độ phân giải cao đồng thời gia công, cắt lớp mẫu ở thang nano với độ chính xác vượt trội

Sản phẩm là giải pháp tối ưu cho phòng Lab, QA-QC, nghiên cứu sản xuất vật liệu đáp ứng nhu cầu chuẩn bị mẫu TEM, gia công cắt lớp và phân tích cấu trúc vi-nano với độ chính xác cao.

Thông tin cơ bản của máy FIB-SEM – JIB-PS500i:

• Tên model: Máy FIB-SEM JIB-PS500i
• Đối tượng sử dụng: Kỹ sư R&D, chuyên gia phân tích vật liệu, chuyên viên kiểm soát chất lượng (QC) trong các ngành bán dẫn, vi điện tử, MEMS và khoa học vật liệu, tại phòng thí nghiệm, trung tâm nghiên cứu và cơ sở sản xuất.
• Mục đích chính: Chuẩn bị mẫu TEM, gia công cắt lớp và phân tích cấu trúc vi-nano bằng công nghệ FIB kết hợp SEM với độ chính xác cao, phục vụ phân tích lỗi và nghiên cứu chuyên sâu đáp ứng tiêu chuẩn ISO 16700, ASTM E1508, ASTM E766.

📞 Nếu doanh nghiệp cần đang tìm kiếm đơn vị cung cấp máy FIB-SEM chính hãng, hãy liên hệ ngay Techno qua hotline 0911.559.559. Chúng tôi tự hào đối tác chiến lược cung cấp máy FIB-SEM của JEOL tại Việt Nam, đem đến giải pháp toàn diện cho doanh nghiệp. 

2. Đặc điểm nổi bật của kính hiển vi FIB-SEM – JIB-PS500i

Kính hiển vi SEM-FIB – JIB-PS500i được thiết kế để đáp ứng nhu cầu gia công, cắt lớp và phân tích cấu trúc vi – nano với độ chính xác cao. Dưới đây là những đặc điểm nổi bật: 

• Thiết kế chuyên dụng cho chuẩn bị mẫu TEM hiệu quả: JIB-PS500i được JEOL phát triển tập trung vào quy trình chuẩn bị mẫu TEM/STEM, giúp rút ngắn thời gian thao tác và đảm bảo độ chính xác tại vị trí mục tiêu.
• Tích hợp SEM độ phân giải cao và FIB Ga⁺ mạnh mẽ: Hệ thống kết hợp SEM phát xạ trường của JEOL với nguồn ion Ga⁺, cho phép vừa quan sát chi tiết bề mặt vừa thực hiện gia công trong cùng một buồng mẫu.
• Quan sát trực tiếp quá trình gia công FIB bằng SEM: Người vận hành có thể theo dõi hình ảnh SEM trong khi cắt lớp hoặc milling, giúp kiểm soát chính xác hình dạng và vị trí vùng xử lý.
• Hỗ trợ quy trình chuẩn bị mẫu TEM bán tự động: JIB-PS500i tích hợp các chức năng hỗ trợ tự động, giúp giảm phụ thuộc vào kinh nghiệm người dùng và tăng độ lặp lại giữa các mẫu.
• Gia công FIB hiệu quả với dòng ion cao: Nguồn ion Ga⁺ với dòng lên đến 100 nA cho phép xử lý và cắt mẫu nhanh, phù hợp với các cấu trúc vật liệu và linh kiện phức tạp.
• Bàn mẫu 5 trục eucentric, buồng mẫu linh hoạt: Bàn mẫu cho phép xoay, nghiêng và định vị chính xác, hỗ trợ phân tích nhiều loại mẫu và nhiều góc quan sát khác nhau.
• Khả năng mở rộng phân tích linh hoạt: JIB-PS500i có thể tích hợp các module phân tích như EDS và hệ thống phun khí (GIS), đáp ứng nhu cầu phân tích thành phần và xử lý mẫu chuyên sâu.

3. Tiêu chuẩn đánh giá của máy FIB-SEM – JIB-PS500i

Dựa trên đặc điểm, thông số kỹ thuật máy FIB-SEM – JIB-PS500i đáp ứng các tiêu chuẩn đánh giá dưới đây:

• ISO 16700: Dùng để kiểm tra độ phân giải, độ ổn định chùm tia và chất lượng hình ảnh SEM.
• ASTM E1508: Đánh giá độ chính xác độ phóng đại SEM, xác nhận độ tin cậy kích thước đo trên ảnh SEM.
• ASTM E766: Đánh giá độ phân giải không gian của SEM, kiểm tra khả năng phân biệt chi tiết nhỏ ở thang nano.
• Tiêu chuẩn nội bộ JEOL (Factory Acceptance Test – FAT): Kiểm tra toàn bộ hệ SEM, FIB, bàn mẫu, detector và chức năng chuẩn bị mẫu TEM theo thông số hãng công bố.

4. Ứng dụng chính của máy FIB-SEM – JIB-PS500i

Với khả năng chuẩn bị mẫu TEM, gia công cắt lớp và phân tích cấu trúc vi-nano với độ chính xác cao, máy FIB-SEM – JIB-PS500i được ứng dụng rộng rãi trong các lĩnh vực:

5. Techno – Đơn vị uy tín cung cấp giải pháp máy FIB-SEM toàn diện

Techno tự hào là đối tác cung cấp thiết bị hiển vi điện tử và giải pháp phân tích vật liệu chuyên sâu, đồng hành cùng doanh nghiệp, viện nghiên cứu và phòng thí nghiệm trong việc lựa chọn, triển khai và vận hành hiệu quả hệ thống FIB-SEM JIB-PS500i theo đúng nhu cầu ứng dụng thực tế.

Ưu điểm nổi bật khi Quý doanh nghiệp hợp tác cùng Techno:

• Sản phẩm chính hãng, tiêu chuẩn quốc tế: Cung cấp máy FIB-SEM JIB-PS500i chính hãng JEOL, đầy đủ chứng từ CO/CQ, đáp ứng các tiêu chuẩn kỹ thuật và đánh giá quốc tế.
• Hỗ trợ và tư vấn kỹ thuật chuyên sâu: Đội ngũ kỹ sư giàu kinh nghiệm tư vấn cấu hình, ứng dụng chuẩn bị mẫu TEM, phân tích bán dẫn và vật liệu, đảm bảo thiết bị phù hợp mục tiêu sử dụng.
• Dịch vụ toàn diện: Thực hiện lắp đặt, hiệu chuẩn, đào tạo vận hành và chuyển giao công nghệ bài bản, giúp khách hàng khai thác tối đa hiệu suất hệ thống.
• Hỗ trợ hậu mãi tận tâm: Dịch vụ bảo trì, hỗ trợ kỹ thuật nhanh chóng, cung cấp phụ kiện và nâng cấp khi cần, đồng hành lâu dài cùng doanh nghiệp.

Máy FIB-SEM – JIB-PS500i là giải pháp hiệu quả cho các ứng dụng chuẩn bị mẫu TEM, phân tích lỗi và nghiên cứu cấu trúc vi – nano trong lĩnh vực bán dẫn, vi điện tử và khoa học vật liệu. Với kinh nghiệm triển khai thực tế và đội ngũ kỹ thuật chuyên sâu, Techno sẵn sàng tư vấn cấu hình phù hợp, lắp đặt và hỗ trợ vận hành, giúp Quý doanh nghiệp khai thác tối đa hiệu quả đầu tư thiết bị.

Hãy liên hệ ngay Techno qua Hotline 0911.559.559 để nâng cao năng suất và chất lượng sản phẩm của doanh nghiệp.

Thông tin liên hệ:

• Văn phòng Hà Nội: Tầng 5, Số 84 Phố Duy Tân, Phường Cầu Giấy, Thành phố Hà Nội, Việt Nam
• Văn phòng HCM: 62 Đường Số 1, Khu Phố 3, Phường An Lạc, Thành phố Hồ Chí Minh, Việt Nam
• Hotline: 0911.559.559
• Email: Sales@technovietnam.com