JSM-IT810 – Kính hiển vi điện tử quét phát xạ trường Schottky (FE-SEM)

Name: JSM-IT810 – Kính hiển vi điện tử quét phát xạ trường Schottky (FE-SEM)
Brand: JEOL
Rating: 4.9 (50 reviews)

Thương hiệu : JEOL

Liên hệ báo giá Hotline/ Zalo: 0911.559.559 Hotline/ Zalo: 0911.559.559

Cam kết và Chính sách của TECHNO

Cam kết 100% Hàng chính hãng
Chất lượng cao, đáp ứng đa dạng nhu cầu
Tư vấn kỹ thuật toàn diện và chuyên sâu
Chính sách bảo hành và hỗ trợ nhanh chóng

Thông số kỹ thuật

Mô tả sản phẩm

Thông tin NSX

Catalogue

Nội dung bài viết

JSM-IT810 – Kính hiển vi điện tử quét phát xạ trường Schottky (FE-SEM)

Tính linh hoạt và độ phân giải cao kết hợp cùng khả năng tự động hóa toàn diện

Dòng kính hiển vi điện tử JSM-IT810 kết hợp hoàn hảo giữa khả năng phân tích linh hoạt, độ phân giải không gian cao và các chức năng tự động hóa tiên tiến.
Hệ thống tích hợp tính năng tự động hóa không cần lập trình cho cả quá trình tạo ảnh và phân tích EDS, giúp tối ưu hóa quy trình vận hành một cách hiệu quả, đơn giản và liền mạch.

Thiết bị cũng được trang bị thêm các chức năng mới nhằm đảm bảo chất lượng dữ liệu đầu ra và nâng cao trải nghiệm người dùng, phù hợp với cả người mới và người vận hành chuyên sâu.

Các tính năng nổi bật bao gồm:

Gói hiệu chuẩn tự động SEM
Chức năng hiệu chỉnh hình thang (đặc biệt hữu ích trong phân tích EBSD)
Tái tạo bề mặt 3D trực tiếp để quan sát địa hình mẫu vật

Với JSM-IT810, việc vận hành một kính hiển vi điện tử FE-SEM trở nên dễ dàng hơn bao giờ hết.

Mẫu phân tích minh họa
Chondrules trong thiên thạch Julesberg (L3.6)
Điện áp gia tốc: 5 kV

Gói hiệu chuẩn tự động SEM (tùy chọn)

Tính năng này sử dụng một mẫu chuyên dụng để thực hiện ba quy trình hiệu chuẩn chính:

Hiệu chuẩn độ phóng đại
Căn chỉnh chùm tia điện tử
Hiệu chuẩn năng lượng cho hệ thống phân tích EDS

Việc hiệu chuẩn định kỳ thông qua gói này giúp duy trì trạng thái hoạt động tối ưu cho thiết bị, đảm bảo độ chính xác và độ tin cậy trong suốt quá trình sử dụng.

EDS Energy Calibration, Beam Alignment, Magnification Accuracy

Chức năng tái tạo bề mặt 3D trực tiếp (Live-3D)

Khi sử dụng đầu dò BSE loại bán dẫn đa phân đoạn, hệ thống cho phép tái dựng hình ảnh 3D của bề mặt mẫu vật trong thời gian thực.
Người dùng có thể quan sát trực tiếp địa hình bề mặt để đánh giá đặc điểm hình thái và cấu trúc mẫu một cách nhanh chóng và trực quan.

Tích hợp EDS toàn diện

Giao diện vận hành thế hệ mới giúp xóa bỏ ranh giới giữa quá trình quan sát bằng SEM và phân tích nguyên tố bằng EDS.
Các phương pháp phân tích như điểm (point), vùng (area), bản đồ nguyên tố (MAP), và đường quét (line scan) có thể được thiết lập trực tiếp ngay trên màn hình quan sát, cho phép bắt đầu phân tích ngay lập tức mà không cần chuyển đổi giao diện hay quy trình.